製品 & サービス ウェハーからシステムレベルに至るまでの試験、特性評価、および信頼性評価
ウェハーからシステムレベルに至るまでの試験、特性評価、および信頼性評価
出展者
Fraunhofer Institute for Electronic Nano Systems ENAS
お客様の成功を支援する当社のサービスラインナップ
MEMS、Beyond CMOS、量子、電子、フォトニック部品向けの、ウェーハ、チップ、コンポーネントレベルでの試験ソリューションの開発
材料特性評価
熱機械的および電気的信頼性評価、ならびにシステム状態の予測を含む予知保全(PHM)
バリデーションを含む試験方法の開発
機能性プロトタイプ、デモ機、および小ロット生産向けのサービス